Mennyiség vagy érték
Adásvételi (szállítási) szerződés, amelynek tárgya „Pásztázó mikroszkóp (SEM) beszerzése a Nyugat-magyarországi Egyetem részére”.1 db pásztázó mikroszkóp (SEM) beszerzése oktatási verzióra átalakítva, az alábbi kiegészítésekkel:— 1 db második nagy monitor,— 1 db lap-top, amely alkalmas a SEM vizsgálatok alapját bemutatni,— mintakamra,— PC a mikroszkóphoz,— EDX (EDAX típusú) detektor,— EBSD (EDAX Hikari Pro) detektor,— PC az EDX és EBSD detektorhoz,— Másodlagos elektron (SE), visszaszórt elektron BSE (back scattered) detektor topó (topographic) és compó (compositional) kontraszttal,— zártkörű vízhűtő,— mintatartók.Részletes műszaki leírás:Pásztázó mikroszkóp (SEM) Oktatási verzióra átalakítva:Egy db második nagy monitorA helyiség ajtaja 1,5x2 méter, bontás nélkül bevihető legyen az eszköz min. 50 inch, mely szabadon elhelyezhető a falon és összekapcsolható a mikroszkóp PC-vel.· minimum 3 év garancia A monitor Full HD felbontással rendelkezzen, és ultra nagy látószögű legyen (ultra-wide viewing angle)· 5 hónapos szállítási határidő Lap-topalkalmas a SEM vizsgálatok alapját bemutatni előadóban,EBSD off-line szoftverreloperációs rendszer min. windows 7, RAM: min 16 Gb, solid state hard drive memoria: min. 250 Gb, processzor: min. intel Core i7Főbb műszaki paraméterek:· Nagyítás: 30x- 4 000 000x· gyorsítófeszültség 200 eV – 30 000 eV· mikroszkóp ágyú forrása: FEG – Schottky típusú· EDX kilépési szög (take-off angle): 35 fok· nagy mintakamra (min 375 mm, legkisebb analitikai munkatávolság: max 10 mm), melyben közvetlen hozzáférés a mintához lehetséges· 1.0 nm vagy jobb 30 kV-on· 1.6 nm vagy jobb 1 kV-on, nyaláblassítás nélkül· 1.4 nm vagy jobb 1 kV-on, nyaláblassítással· 2.5 nm vagy jobb 1 kV-on, eucentrikus munkatávolság mellett· Nagy áramú téremissziós elektronforrás: A nyaláb stabilitása 0.4 % / 10 óra vagy jobb, a hosszú idejű vagy nagy felületet érintő vizsgálatok érdekében. A kölcsönhatási energia (landing voltage) 20 eV és 30 keV között folyamatosan változtatható. A nyalábáram eléri a 400 nA-t.· mágneses és nem mágnesezhető mintákon egyforma felbontást ad az elektrosztatikus objektívlencse· az oszlopba épített automata eltolható apertúrarendszer szabályozza a mintaáramot· élő / sorátlagolt / sorintegrált / kimerevített vagy képátlagolt digitális képek megjelenítése egy képen vagy négy negyedben. Másodlagos elektron (SE), visszaszórt elektron (BSE), kevert SE/BSE és CCD képek élő megjelenítése a négy negyedben· az elektronmikroszkóp megfelelően rugalmas pásztázási lehetőségeket biztosít a legkülönfélébb minták vizsgálatához: képátlagolás, sorátlagolás, váltott soros (interlaced) pásztázás.· a drift-korrekció képintegrálás során az egyes képek automatikus eltolásával kiküszöböli a minták esetleges instabilitásából, töltődéséből eredő képminőség romlást.· az elérhető képfelbontás minimum 6144 x 4096 pixel, a képek TIFF, BMP vagy JPEG formátumban exportálhatók, 8 bit vagy 16 bit színmélységben.· színek keverése: 2 vagy 3 szürkeskálás kép színkeverésével a szögkontraszt vagy erergiakontraszt hamis színekben jeleníthető meg.· egyetlen pásztázás során akár négy detektor vagy detektorszegmens jele is szimultán gyűjthető és megjeleníthető.· automatikusan növekvő képszámozás esetén is a szimultán gyűjtött képek azonos sorszámmal menthetők.· a legfontosabb funkciók (fókusz, nagyítás, kontraszt, fényerő, képeltolás és stigmátor) nem csak a számítógépes felületen, hanem fizikai gombokról is vezérelhetők.a mintakamrába épített plazmatisztító lehetővé teszi a mintakamra és minta tisztítását.A detektorrendszer szembeni főbb követelmények:· legyen Everhart-Thornley féle másodlagos-elektron detektor· alkalmas legyen nagyteljesítményű ionkonverziós és elektron-detektor másodlagos ionok és elektronok detektálására· többszegmenses in-lens visszaszórt-elektron detektor legyen· két in-lens rendszerű másodlagos elektron detektor az alacsony és nagy energiás SE jelhez, a nagyenergiás detektor több szegmensű legyen· az in-lens SE and BSE jelek egy időben detektálhatók és megjeleníthetők legyenek· a mintakamrába épített, színes kamera automatikusan a minta x-y koordinátáihoz kalibrálható és elősegíti a mintán/mintákon való navigációt· a szilárdtest kivitelű visszaszórt-elektron detektor koncentrikus gyűrűi a kölcsönhatási energiától és gyűjtési szögtől függő kontrasztot jelenítsenek meg· a mintatérből kihúzható visszaszórt-elektron detektor egy üzemmódjában lehetővé tegye a koncentrikus szegmensekből származó (z-kontraszt a belső gyűrűkből) és a külső gyűrűkből származó (topográfiai jel a külső gyűrűkből) jelek kombinálását· legyen beépített nyalábáram-monitor· a minta élő infravörös CCD képe, mely az élő SE képpel egyidejűleg is megjeleníthető, melyek az elektronmikroszkópos felhasználói felületen jelenjenek meg· BSE vizsgálat esetén az infravörös megvilágítás automatikusan lekapcsol, hogy ne zavarja a fényre érzékeny BSE detektort· EDS vizsgálat esetén az infravörös megvilágítás automatikusan lekapcsol, hogy védje az fényérzékeny EDS gyűjtéstA mintaasztal minimumkövetelményei:· Az összes tengelyen motorizált precíziós 5 tengelyes mintaasztal· x, y tartomány: minimum 110 mm· z tartomány: minimum 65 mm· döntés: legalább -15°-tól +90°-ig· forgatás: 360°· Az X és Y mozgatás reprodukálhatósága 2 µm vagy jobb· Compucentric (automatikusan korrigált X-Y pozíciójú) forgatás és döntésSzükséges kiegészítések:Nagy mintakamra (közvetlen hozzáférés a mintához) – Mintakamra szélessége: min 375 mm és analitikai munkatávolság: 10 mmPC a mikroszkóphoz – operációs rendszer min. windows 7, RAM: min 16 Gb, hard drive memory: min 1000 Gb, processor: min. Intel Core i7), illetve a mikroszkóp működéshez szükséges szoftverek,számítógépes asztal, amely alkalmas a monitorok és a perifériák elhelyezéséreEDX (EDAX típusú) detektorEBSD (EDAX Hikari Pro) detektor, sebessége: min 600 fps (kép másodpercenként)PC az EDX és EBSD detektorhoz (operációs rendszer min. windows 7, RAM: min 16 Gb, hard drive memory: min 1000 Gb, processor: min. intel Core i7)Másodlagos elektron (SE), visszaszórt elektron BSE (back scattered) detektor topó (topographic) és compó (compositional) kontraszttalSE és BSE jelek egy időben detektálhatók legyenekkompresszor (230 V, 50/60 Hz) minimum 4 literes tartállyalzártkörű vízhűtő (230 V, 50/60 Hz), mely biztosítja a mikroszkóp hűtési igényét„Cross-sectional Holder for non-LoadLock Systems” mintatartó„SEM Vise Holder” mintatartóTovábbi feladatok, elvárások „- a gépet a helyszínre szállítja, biztosítja a lerakodást és a beüzemelést— vállalja minimum 3 főnek a gép betanítását— szükség esetén beköti az előkészített elektromos hálózatba— minimum 10 tesztvizsgálatot vállal, az általa biztosított próbatesteken, amelyeken hiba nélkül tudja bizonyítani a fenti funkciók működését.”A részletes műszaki leírást és a kapcsolódó további feladatokat, mint szállítás, lerakodás, üzembe helyezést, betanítás, elektromos hálózatba kötés, próbateszt, próbaüzem, a dokumentáció, valamint a szerződés-tervezet tartalmazza. Felhívjuk Ajánlattevők figyelmét, hogy a Kbt. 7. § (2) bekezdése alapján az árubeszerzés magában foglalja a beállítást és üzembe helyezést is!